【佳學(xué)基因檢測(cè)】基因檢測(cè)揭示什么樣的自閉癥患者會(huì)有智力障礙?
基因檢測(cè)如何揭示什么樣的自閉癥患者會(huì)有智力障礙?
基因檢測(cè)在揭示自閉癥患者智力障礙方面可以提供一些有價(jià)值的信息,盡管目前還沒(méi)有特定的單一基因與所有自閉癥患者的智力障礙直接相關(guān)。然而,研究已經(jīng)顯示,特定基因變異可能會(huì)與自閉癥患者的智力發(fā)展有關(guān)。
以下是一些常見(jiàn)的基因和變異,它們可能與自閉癥患者智力障礙相關(guān)聯(lián):
CHD8基因突變:CHD8基因的一些突變已經(jīng)與自閉癥及智力發(fā)育延遲有關(guān)。這些突變可能導(dǎo)致智力發(fā)育的差異。
NRXN1基因變異:這是一個(gè)編碼神經(jīng)連接素的基因,其變異與自閉癥患者中智力發(fā)育遲緩相關(guān)。
DYRK1A基因變異:這個(gè)基因的變異與智力發(fā)育的問(wèn)題有關(guān),部分研究表明它可能與自閉癥的智力表現(xiàn)有關(guān)聯(lián)。
16p11.2區(qū)域缺失或重復(fù):這個(gè)基因組區(qū)域的變異與自閉癥、智力障礙以及其他神經(jīng)發(fā)育問(wèn)題相關(guān)。
MECP2基因:雖然主要與雷文氏綜合征相關(guān),但在一些自閉癥患者中也有發(fā)現(xiàn),它與智力發(fā)育的問(wèn)題有關(guān)。
這些基因變異不僅僅與自閉癥的發(fā)生有關(guān),還可能影響患者的智力水平。通過(guò)基因檢測(cè),可以檢測(cè)這些基因是否存在變異,進(jìn)而幫助醫(yī)生更好地理解患者的病因和可能的發(fā)展軌跡。然而,需要注意的是,自閉癥的病因和發(fā)展過(guò)程極其復(fù)雜,智力發(fā)育問(wèn)題可能還受多種其他因素影響,包括環(huán)境因素和基因-環(huán)境互作等。
因此,基因檢測(cè)雖然可以提供一些關(guān)鍵信息,但在診斷和治療中仍需綜合考慮多種因素,而不是單一依賴(lài)基因檢測(cè)結(jié)果。
自閉癥基因解碼如何評(píng)估自閉癥基因與智力障礙之間的關(guān)系的?
有害的從頭突變(DNVs)和一些罕見(jiàn)的遺傳功能缺失突變(LoFs)與智力障礙有關(guān)
為了評(píng)估基因型與自閉癥譜系障礙(ASD)表型之間的關(guān)聯(lián),自閉癥基因解碼使用了SPARK中自報(bào)的認(rèn)知障礙、SSC中Vineland評(píng)分<70或ASC中存在智力障礙的情況。在LOEUF評(píng)分排名前10%的基因中,有害的從頭突變?cè)谟姓J(rèn)知障礙證據(jù)的自閉癥(ASD)病例中顯示出更高的負(fù)擔(dān)(χ2檢驗(yàn),P = 1.1 × 10−24),這與之前的結(jié)果一致。一旦排除已知的自閉癥(ASD)或神經(jīng)發(fā)育障礙(NDD)基因,LOEUF評(píng)分排名前10%的基因中有害從頭突變的剩余負(fù)擔(dān)大大減少,并且與自閉癥(ASD)的認(rèn)知表型無(wú)顯著關(guān)聯(lián)。LOEUF評(píng)分排名前10%的基因中罕見(jiàn)功能缺失突變向有認(rèn)知障礙的自閉癥(ASD)病例的過(guò)度傳遞約為無(wú)認(rèn)知障礙病例的2.7倍(χ2檢驗(yàn),P = 4.6 × 10−3),即使排除已知的自閉癥(ASD)或NDD基因后仍然是2倍(χ2檢驗(yàn),P = 0.04)。然而,由A-risk優(yōu)先排序的基因中的罕見(jiàn)功能缺失突變與認(rèn)知障礙無(wú)關(guān)。綜上所述,這些結(jié)果表明,LOEUF評(píng)分排名前10%的基因中的罕見(jiàn)變異——其中大多數(shù)已知是自閉癥(ASD)或NDD風(fēng)險(xiǎn)基因——與認(rèn)知障礙有關(guān)。然而,一部分罕見(jiàn)的遺傳變異,特別是那些由A-risk優(yōu)先排序的變異,與認(rèn)知障礙無(wú)關(guān)。
在gnomAD LOEUF評(píng)分排名前10%的基因中,pExt ≥ 0.1的超罕見(jiàn)遺傳功能缺失突變(LoFs)也顯示出更高的傳遞比例,并且向有認(rèn)知障礙(CogImp)的自閉癥譜系障礙(ASD)后代的過(guò)度傳遞率高于無(wú)認(rèn)知障礙(NoCogImp)的后代。其他受限基因中的罕見(jiàn)功能缺失突變與表型嚴(yán)重程度沒(méi)有顯著關(guān)聯(lián)。在排除已知的ASD或神經(jīng)發(fā)育障礙(NDD)基因后,有認(rèn)知障礙病例中遺傳功能缺失突變的增加負(fù)擔(dān)仍然顯著。數(shù)據(jù)以平均值±標(biāo)準(zhǔn)誤差的形式呈現(xiàn),誤差線(xiàn)表示標(biāo)準(zhǔn)誤差。使用泊松檢驗(yàn)計(jì)算P值以評(píng)估富集倍數(shù),使用二項(xiàng)式檢驗(yàn)評(píng)估過(guò)度傳遞。
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